]> git.apps.os.sepia.ceph.com Git - xfstests-dev.git/commit
aiodio_sparse2: fix up alignment for 4k logical block sized devices
authorJeff Moyer <jmoyer@redhat.com>
Fri, 11 Feb 2011 19:08:09 +0000 (14:08 -0500)
committerChristoph Hellwig <hch@lst.de>
Sun, 13 Feb 2011 11:59:20 +0000 (12:59 +0100)
commit8a6c926b0c638bb63df0611edd9a2132a7cf587f
tree1873f29b73ba505bf697a2489d1ff5df71b55fab
parent2daf31b292bc936493af7ea2878c96296546820b
aiodio_sparse2: fix up alignment for 4k logical block sized devices

When running xfstests on a 4k logical sector device, I ran into a test
failure in test 198.  The errors were all due to trying to do 512 byte
aligned I/O on a 4k logical sector device.  The attached patch tries to
auto-detect the proper block size if no alignment is specified.  If it
fails for one reason or another, it defaults to 4k alignment.  This
seems to work fine in my test rig.

Signed-off-by: Jeff Moyer <jmoyer@redhat.com>
Signed-off-by: Christoph Hellwig <hch@lst.de>
src/aio-dio-regress/aiodio_sparse2.c