tests/generic/016

   1 #! /bin/bash
   2 # SPDX-License-Identifier: GPL-2.0
   3 # Copyright (c) 2013 Samsung Electronics.  All Rights Reserved.
   4 #
   5 # FS QA Test No. generic/016
   6 #
   7 # Delayed allocation multi collapse range tests
   8 # This testcase is one of the 4 testcases which tries to
   9 # test various corner cases for fcollapse range functionality over different
  10 # type of extents. These tests are based on generic/255 test case.
  11 # For the type of tests, check the description of _test_generic_punch
  12 # in common/rc.
  13 seq=`basename $0`
  14 seqres=$RESULT_DIR/$seq
  15 echo "QA output created by $seq"
  16
  17 here=`pwd`
  18 tmp=/tmp/$$
  19 status=1        # failure is the default!
  20
  21 _cleanup()
  22 {
  23     rm -f $tmp.*
  24 }
  25
  26 trap "_cleanup ; exit \$status" 0 1 2 3 15
  27
  28 # get standard environment, filters and checks
  29 # we need to include common/punch to get defination fo filter functions
  30 . ./common/rc
  31 . ./common/filter
  32 . ./common/punch
  33
  34 # real QA test starts here
  35 _supported_fs generic
  36 _supported_os Linux
  37
  38 _require_test
  39 _require_xfs_io_command "fpunch"
  40 _require_xfs_io_command "falloc"
  41 _require_xfs_io_command "fiemap"
  42 _require_xfs_io_command "fcollapse"
  43
  44 testfile=$TEST_DIR/$seq.$$
  45
  46 _test_generic_punch -d -k falloc fpunch fcollapse fiemap _filter_hole_fiemap $testfile
  47 _check_test_fs
  48
  49 status=0
  50 exit