tests/generic/060

   1 #! /bin/bash
   2 # SPDX-License-Identifier: GPL-2.0
   3 # Copyright (c) 2015 Samsung Electronics.  All Rights Reserved.
   4 #
   5 # FS QA Test No. generic/060
   6 #
   7 # Delayed allocation insert range tests
   8 # This testcase is one of the 4 testcases which tries to
   9 # test various corner cases for finsert range functionality over different
  10 # type of extents. These tests are based on generic/255 test case.
  11 # For the type of tests, check the description of _test_generic_punch
  12 # in common/rc.
  13 . ./common/preamble
  14 _begin_fstest auto quick prealloc punch insert
  15
  16 # Import common functions.
  17 # we need to include common/punch to get defination fo filter functions
  18 . ./common/filter
  19 . ./common/punch
  20
  21 # real QA test starts here
  22 _supported_fs generic
  23
  24 _require_xfs_io_command "fpunch"
  25 _require_xfs_io_command "falloc"
  26 _require_xfs_io_command "fiemap"
  27 _require_xfs_io_command "finsert"
  28
  29 testfile=$TEST_DIR/$seq.$$
  30
  31 _test_generic_punch -d falloc fpunch finsert fiemap _filter_hole_fiemap $testfile
  32 _check_test_fs
  33
  34 status=0
  35 exit