tests/generic/124

   1 #! /bin/bash
   2 # SPDX-License-Identifier: GPL-2.0
   3 # Copyright (c) 2006 Silicon Graphics, Inc.  All Rights Reserved.
   4 #
   5 # FSQA Test No. 124
   6 #
   7 # Test preallocated_rw_pattern_test modified from CXFSQA test preallocated_rw_pattern_test
   8 #
   9 # pat stands for pattern.  First 8 bytes contains the 64-bit number 0,
  10 # second is 1, ..., until last 8 bytes (1048568-1048575) contain 131071.
  11 # patw preallocates the file and then writes the pattern, patr checks it
  12 #
  13 . ./common/preamble
  14 _begin_fstest pattern auto quick
  15
  16 # Override the default cleanup function.
  17 _cleanup()
  18 {
  19     cd /
  20 }
  21
  22 # Import common functions.
  23 . ./common/filter
  24
  25 # real QA test starts here
  26 _supported_fs generic
  27
  28 _require_test
  29 _require_scratch
  30 _scratch_mkfs >/dev/null 2>&1
  31 _scratch_mount
  32
  33 # Run preallo_rw_pattern on both test and scratch partitions
  34 for TESTFILE in $TEST_DIR/rw_pattern.tmp $SCRATCH_MNT/rw_pattern.tmp
  35   do
  36   count=1
  37   while (( count < 101 ))
  38     do
  39     $here/src/preallo_rw_pattern_writer $TESTFILE
  40     $here/src/preallo_rw_pattern_reader $TESTFILE
  41     if (test $? -ne 0) then
  42         echo Read/Write Pattern Test FAILED.
  43         _cleanup
  44         exit 1
  45     fi
  46     rm $TESTFILE
  47     ((count=count+1))
  48   done #done for count of  100
  49 done
  50
  51 if (test $? -eq 0 ) then
  52     status=0
  53 fi
  54
  55 _scratch_unmount
  56
  57 exit